アセンブリ多層PCB HDIの液浸の金PCBのプリント基板

OEM ODM多層HDIの液浸の金PCBのプリント基板

産業Co.、株式会社ポーンと音がしなさい
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機能テスト

より密なPCBsのより高いバス速度、アナログRF回路は前例のないテストの挑戦を示し、この環境の機能テストは注意深い設計を、思慮深い試験方法および適切要求する信頼できる試験結果を提供する用具。

据え付け品の製造者に対処するとき、考えている間多くのテスト エンジニアは見落とすこと区域のプロダクトがどこにについて製造されるかまたこれらの問題に留意することは重要である。例えば熟練した、高給のオペレータのための必要性を除去するのにプロダクトがカリフォルニア設備、必要性およびオートメーションの据え付け品を使用する必要性の高い費用のために可能ように少数のテスターとして持つ高いオートメーションの据え付け品を要求することを、テスト エンジニアがカリフォルニアで基づいているプロダクトがThailand.Theのテスト エンジニアで論争する製造されることを仮定する。しかしタイに、これらの問題のどちらもないし、それは人々にそれらを解決してもらうことはより安いので人件費は低く、土地は安く、大きい工場は問題ではない。このような理由で、時々一流装置は一部の国で普及しないかもしれない。

1. 技術的なレベル

高密度UUTでは、必要性口径測定か診断が手動検出によってされる必要がある場合もあればこれは、より速い針床の接触が限られ、テスト（調査が付いているUUTテストはコネクターの端へ情報フィードバックよりもむしろすぐに集められたデータである場合もある）であるのでUUTのテスト・ポイントの精査によってオペレータによって要求することである。あるところはどこでも、テスト サイトがはっきり印が付いていることを確かめなさい。

考慮するべきある問題が下記のものを含んでいること調査のタイプおよび一般的なオペレータはまたわかっているべきである:

1. 調査はテスト・ポイントより大きいか。複数のテスト・ポイントをショートさせ、UUTを傷つける調査のあらゆる危険があるか。オペレータにあらゆる電気危険があるか。

2. 各オペレータはすぐにテスト・ポイントを見つけ、点検できるか。十分に大きいテスト サイトはあるために容易に識別されるか。

3. オペレータは正確な読書を得るためにテスト・ポイントの調査を押すためにどの位の時間を要するか。時間が小さい試験区域で起こるには余りにも長ければ、ある問題はできるテスト時間によるオペレータの手の滑走のようなこの問題を避けるために試験区域を拡大するには余りにも長い、従ってそれは推薦される。

上記の問題を考慮した後、テスト エンジニアはテスト調査のタイプを、よりよくテスト・ポイントの位置を識別するためにテスト ファイルを変更するために再評価するべきまた更にオペレータのための条件を変える。

2. 自動調査

自動化された精査はPCBが手動で厳密に調べにくい時または時として要求されるオペレータの技倆基準がテスト速度をかなり減速する時のような、かもしれない。

自動probingは人為的なミスを除去し、複数のテスト・ポイントでショートの可能性を減らし、そしてテスト操作をスピードをあげる。わかっていてがであって下さい、自動化したprobingは、下記のものを含んでいる売り手の設計によってある限定があるかもしれない:

（1）のUUTのサイズ

（2）の同時性の調査の数

（3）、2つはいかに近く互いにテスト・ポイントであるか。

（4）は、調査の位置の正確さテストされる

両側のUUTを検出（5）システムはできるか。

（6）、どれだけ速く調査は次のテスト・ポイントに動くことができるか。

（7）。調査システムによって必要な実際の間隔は何であるか。（これは一般にオフ・ラインの機能テストシステムより大きい）

自動化された調査は通常針ベッドの据え付け品が付いている他のテスト・ポイントに触れないし、一般に生産ラインより遅い、従って2つのステップは要求されるかもしれない:調査が診断目的でのみ使用されたら、生産ラインの従来の機能テストシステムを使用し、診断システムとして生産ラインに調査を置くことを考慮しなさい;探知器の目的がUUTの口径測定なら、まだ手操作より大いに速い唯一の本当の解決法は複数システムを使用することである。

方法生産ラインに統合するまた調査されなければならない重要な問題である。生産ラインに部屋があるか。システムはコンベヤー ベルトに接続することができるか。幸いにも、新しい検出システムの多数はSMEMAの標準と互換性がある、従ってオンライン環境ではたらいてもいい。

3. 境界スキャン

この技術は製品設計段階に専門にされた部品がこの仕事を行うように要求するので早く論議されるべきである。デジタル主導のUUTSでは、IEEEが付いている装置は精査がほとんどないほとんどの診断問題を解決する1194の（境界スキャン）サポート購入することができる。各々の多用性がある装置（破片およびある回路ごとの4-5のピン）の区域を高めるので境界スキャンがUUTの全面的な機能性を減らすので、この技術の選択の原則は費用が改善された診断結果をもたらすべきであることである。に更に加えるUUTのフラッシュ・メモリそしてPLD装置をプログラムするのにその境界スキャンが使用することができることを覚えていることは重要であるこのテスト方法を選ぶための理論的根拠。

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